微纳材料热电性能原位测量仪（In-situ measuring instrument for thermoelectric properties of micro-nano materials）是中国科学院工程热物理研究所自主研制的，主要适用于热能储存及应用、高效热管理、热功能材料/器件的研制开发。微纳材料热电性能原位测量仪，利用谐波探测（3ω）技术，主要用于微纳一维线材（直径大于50nm，长度大于1μm）、二维薄膜（厚度小于100μm）热电优值系数、热导率、电导率及塞贝克系数四个热电参数的原位直接精确表征，测量误差小于±5%，适用室温~1000℃。该仪器可以更好地为我国航空航天、新材料研制、新能源利用、建筑节能、微电子器件散热、储能技术开发及工业余热回收等领域提供准确可靠的测量服务，为我国新兴高性能热电材料基本物性数据库的完善提供精确方便的测量器。